闭锁效应

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简介

闭锁效应是某些器件或集成电路中发生像晶闸管(可控硅,scr)那样的栅极(控制极)能够控制导通、但是不能控制关断的一种现象,是造成ic失效的一种重要原因

中文名	闭锁效应
原始名称	闭锁效应
外文名	latch-up effect
条件	三个基本条件
结果	造成ic失效

上位词

一种重要原因

造成ic失效的一种重要原因

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术语

现象