辐照损伤

热度:410

简介

辐照对于材料和元器件(包括半导体器件和ic)产生损伤的基本机理是电离损伤和位移损伤。电离损伤主要是在半导体和绝缘体中产生电子-空穴对,需要的能量较低；而位移损伤主要是在半导体中产生晶格空位(即原子离开晶格位置后所留下的空位),需要的能量要高得多。半导体中的这些损伤也就是造成器件和ic的辐照效应的根本原因。