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半导体材料测试与分析
简介
《半导体材料测试与分析》是2010年4月1日科学出版社出版的图书,作者是杨德仁。
| 价格 | 78.00元 |
|---|---|
| 作者 | 杨德仁 |
| 出版时间 | 2010-04-01 |
| 出版社 | 科学出版社 |
| 原始名称 | 半导体材料测试与分析 |
| 开本 | 16开 |
相关实体
《半导体材料测试与分析》是2010年4月1日科学出版社出版的图书,作者是杨德仁。
| 价格 | 78.00元 |
|---|---|
| 作者 | 杨德仁 |
| 出版时间 | 2010-04-01 |
| 出版社 | 科学出版社 |
| 原始名称 | 半导体材料测试与分析 |
| 开本 | 16开 |