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英文名
扫描透射电子显微镜
简介
扫描透射电子显微镜(scanning transmission electron microscopy,stem)既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。stem用电子束在样品的表面扫描,通过电子穿透样品成像。stem技术要求较高,要非常高的真空度,并且电子学系统比tem和sem都要复杂。
| 中文名 | 扫描透射电子显微镜 |
|---|---|
| 原始名称 | 扫描透射电子显微镜 |
| 用途 | 观察 |
| 类别 | 电子设备 |
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