x射线荧光分析
简介
x射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称x射线次级发射光谱分析,是利用原级x射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征x射线(x光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。
1948年由h.费里德曼(h.friedmann)和l.s.伯克斯(l.s.birks)制成第一台波长色散x射线荧光分析仪,至60年代本法在分析领域的地位得以确立。
| 上位词 | 一种方法 |
|---|---|
| 中文名 | x射线荧光分析 |
| 功效 | 确定物质中微量元素的种类和含量 |
| 原始名称 | X射线荧光分析 |
| 名称 | x射线荧光分析 |
| 属性 | 分析 |
| 精选上位词 | 方法 |
| 风格 | 射线荧光 |
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